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Applications Et Métrologie À L'Échelle Nanométrique 2 : Systèmes De Mesure, Ingénierie Quantique Et Méthodes D'Optimisation Fiabiliste

by Abdelkhalak El Hami, Pierre Richard Dahoo e Philippe Pougnet
Book eBook
language: french
Publisher: ISTE, January of 2022 ‧
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Applications Et Métrologie À L'Échelle Nanométrique 2 : Systèmes De Mesure, Ingénierie Quantique Et Méthodes D'Optimisation Fiabiliste

by Abdelkhalak El Hami, Pierre Richard Dahoo e Philippe Pougnet

Property Description
ISBN: 9781784057947
Publisher: ISTE
Release Date: January of 2022
Language: French
Pages: 232
Format: Book
Categories: Books in French > Exact and Natural Sciences > Physical
EAN: 9781784057947