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Défauts À L'Échelle Nanométrique En Lumière Polarisée

by Abdelkhalak El Hami, Pierre-Richard Dahoo e Philippe Pougnet
Book eBook
language: french
Publisher: ISTE, July of 2016 ‧
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Défauts À L'Échelle Nanométrique En Lumière Polarisée

by Abdelkhalak El Hami, Pierre-Richard Dahoo e Philippe Pougnet

Property Description
ISBN: 9781784051655
Publisher: ISTE
Release Date: July of 2016
Language: French
Pages: 290
Format: Book
Collection: Genie Mecanique Et Mecanique Des Solides
Categories: Books in French > Exact and Natural Sciences > Others
EAN: 9781784051655