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Vlsi Test Principles And Architectures eBook

Design For Testability

de Laung-Terng Wang, Xiaoqing Wen e Cheng-Wen Wu
idioma: inglês
Editor: ELSEVIER SCIENCE, agosto de 2006 ‧
70,21€
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DISPONIBILIDADE IMEDIATA
Ebook para ADE
A comprehensive guide to DFT methods that shows the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. It provides coverage of design for testability. It presents coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools.

Vlsi Test Principles And Architectures

Design For Testability

de Laung-Terng Wang, Xiaoqing Wen e Cheng-Wen Wu

Propriedade Descrição
ISBN: 9780080474793
Editor: ELSEVIER SCIENCE
Data de Lançamento: agosto de 2006
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Systems On Silicon
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Arte > Design e Ilustração
EAN: 9780080474793