System-On-Chip Test Architectures

Nanometer Design For Testability

de Laung-Terng Wang, Nur Touba e Charles E. Stroud
idioma: inglês
Editor: ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY, Janeiro de 2008 ‧
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A guide to VLSI Testing and Design-for-Testability techniques that allows students, researchers, DFT practitioners, and VLSI designers to master System-on-Chip Test architectures, for test debug and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. It also includes practical problems at the end of each chapter for students.

System-On-Chip Test Architectures

Nanometer Design For Testability

de Laung-Terng Wang, Nur Touba e Charles E. Stroud

Propriedade Descrição
ISBN: 9780123739735
Editor: ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY
Data de Lançamento: Janeiro de 2008
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 896
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9780123739735