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System-On-Chip Test Architectures
Nanometer Design For Testability
idioma: inglês
Editor:
ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY, Janeiro de 2008 ‧
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SINOPSE
A guide to VLSI Testing and Design-for-Testability techniques that allows students, researchers, DFT practitioners, and VLSI designers to master System-on-Chip Test architectures, for test debug and diagnosis of digital, memory, and analog/mixed-signal designs. It also includes practical problems at the end of each chapter for students.
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9780123739735 |
| Editor: | ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY |
| Data de Lançamento: | Janeiro de 2008 |
| Idioma: | Inglês |
| Encadernação: | Capa dura |
| Páginas: | 896 |
| Tipo de produto: | Livro |
| Classificação Temática: |
Livros em Inglês
>
Engenharia
>
Eletricidade e Energia
|
| EAN: | 9780123739735 |