Vlsi Test Principles And Architectures

Design For Testability

de Laung-Terng Wang, Xiaoqing Wen e Cheng-Wen Wu
idioma: inglês
Editor: ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY, agosto de 2006 ‧
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A comprehensive guide to DFT methods that shows the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume. It provides coverage of design for testability. It presents coverage of industry practices commonly found in commercial DFT tools.

Vlsi Test Principles And Architectures

Design For Testability

de Laung-Terng Wang, Xiaoqing Wen e Cheng-Wen Wu

Propriedade Descrição
ISBN: 9780123705976
Editor: ELSEVIER SCIENCE & TECHNOLOGY
Data de Lançamento: agosto de 2006
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 808
Tipo de produto: Livro
Coleção: Systems On Silicon
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9780123705976