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Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis eBook

Third Edition

de Joseph Goldstein, Patrick Echlin, Eric Lifshin, J.R. Michael, Linda Sawyer, Dale E. Newbury, Charles E. Lyman e David C. Joy
idioma: inglês
Editor: SPRINGER US, dezembro de 2012 ‧
131,84€
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Ebook para ADE
An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described.

Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis

Third Edition

de Joseph Goldstein, Patrick Echlin, Eric Lifshin, J.R. Michael, Linda Sawyer, Dale E. Newbury, Charles E. Lyman e David C. Joy

Propriedade Descrição
ISBN: 9781461502159
Editor: SPRINGER US
Data de Lançamento: dezembro de 2012
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Chemistry And Materials Science
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
eBooks em Inglês > Dicionários e Enciclopédias > Enciclopédias
EAN: 9781461502159

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