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Handbook Of Sample Preparation For Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis

de Patrick Echlin
idioma: inglês
Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC., março de 2009 ‧
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The analytical system depends on collecting the x-ray photons that are generated within the sample as a consequence of interaction with the same high energy beam of primary electrons used to produce images.

Handbook Of Sample Preparation For Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis

de Patrick Echlin

Propriedade Descrição
ISBN: 9780387857305
Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC.
Data de Lançamento: março de 2009
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 332
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Sociais e Humanas > História e Metodologia Científica
EAN: 9780387857305