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Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis

de Joseph I. Goldstein, David C. Joy, John Henry J. Scott, Nicholas W.M. Ritchie, Joseph R. Michael e Dale E. Newbury
idioma: inglês
Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC., novembro de 2017 ‧
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Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis

de Joseph I. Goldstein, David C. Joy, John Henry J. Scott, Nicholas W.M. Ritchie, Joseph R. Michael e Dale E. Newbury

Propriedade Descrição
ISBN: 9781493966745
Editor: SPRINGER-VERLAG NEW YORK INC.
Data de Lançamento: novembro de 2017
Idioma: Inglês
Dimensões: 210 x 279 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 550
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Sociais e Humanas > História e Metodologia Científica
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781493966745