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Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis

Third Edition

de Joseph Goldstein, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Dale E. Newbury, J.R. Michael, Charles E. Lyman, David C. Joy e Linda Sawyer
idioma: inglês
Editor: Springer Science+Business Media, Janeiro de 2003 ‧
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In the decade since the publication of the second edition of Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis, there has been a great expansion in the capabilities of the basic scanning electron microscope (SEM) and the x-ray spectrometers.

Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis

Third Edition

de Joseph Goldstein, Patrick Echlin, Eric Lifshin, Dale E. Newbury, J.R. Michael, Charles E. Lyman, David C. Joy e Linda Sawyer

Propriedade Descrição
ISBN: 9780306472923
Editor: Springer Science+Business Media
Data de Lançamento: Janeiro de 2003
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 689
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Sociais e Humanas > História e Metodologia Científica
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9780306472923