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Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability

A Physics Of Failure Approach

de Edward B. Hakim, Michael (University Of Maryland, College Park, Usa) Pecht e Pradeep (Auburn University, Alabama, Usa) Lall
idioma: inglês
Editor: TAYLOR & FRANCIS LTD, junho de 2019 ‧
81,10€
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This book raises the level of understanding of thermal design criteria. It provides the design team with sufficient knowledge to help them evaluate device architecture trade-offs and the effects of operating temperatures.

Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability

A Physics Of Failure Approach

de Edward B. Hakim, Michael (University Of Maryland, College Park, Usa) Pecht e Pradeep (Auburn University, Alabama, Usa) Lall

Propriedade Descrição
ISBN: 9780367400972
Editor: TAYLOR & FRANCIS LTD
Data de Lançamento: junho de 2019
Idioma: Inglês
Dimensões: 178 x 254 x 20 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 336
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9780367400972