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Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability

A Physics Of Failure Approach

de Edward B. Hakim, Michael (University Of Maryland, College Park, Usa) Pecht e Pradeep (Auburn University, Alabama, Usa) Lall
idioma: inglês
Editor: TAYLOR & FRANCIS INC, abril de 1997 ‧
229,82€
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This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.

Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability

A Physics Of Failure Approach

de Edward B. Hakim, Michael (University Of Maryland, College Park, Usa) Pecht e Pradeep (Auburn University, Alabama, Usa) Lall

Propriedade Descrição
ISBN: 9780849394508
Editor: TAYLOR & FRANCIS INC
Data de Lançamento: abril de 1997
Idioma: Inglês
Dimensões: 178 x 254 x 21 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 328
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Mecânica
EAN: 9780849394508