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Applications Et Métrologie À L'Échelle Nanométrique 2 : Systèmes De Mesure, Ingénierie Quantique Et Méthodes D'Optimisation Fiabiliste

de Abdelkhalak El Hami, Pierre Richard Dahoo e Philippe Pougnet
Livro eBook
idioma: francês
Editor: ISTE, Janeiro de 2022 ‧
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Applications Et Métrologie À L'Échelle Nanométrique 2 : Systèmes De Mesure, Ingénierie Quantique Et Méthodes D'Optimisation Fiabiliste

de Abdelkhalak El Hami, Pierre Richard Dahoo e Philippe Pougnet

Propriedade Descrição
ISBN: 9781784057947
Editor: ISTE
Data de Lançamento: Janeiro de 2022
Idioma: Francês
Páginas: 232
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Francês > Ciências Exatas e Nat. > Física
EAN: 9781784057947