Applications And Metrology At Nanometer Scale 1

Smart Materials, Electromagnetic Waves And Uncertainties

de Abdelkhalak El Hami, Pierre-Richard Dahoo e Philippe Pougnet
idioma: inglês
Editor: ISTE LTD AND JOHN WILEY & SONS INC, fevereiro de 2021 ‧
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Applications And Metrology At Nanometer Scale 1

Smart Materials, Electromagnetic Waves And Uncertainties

de Abdelkhalak El Hami, Pierre-Richard Dahoo e Philippe Pougnet

Propriedade Descrição
ISBN: 9781786306401
Editor: ISTE LTD AND JOHN WILEY & SONS INC
Data de Lançamento: fevereiro de 2021
Idioma: Inglês
Dimensões: 167 x 243 x 18 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 256
Tipo de produto: Livro
Coleção: Wiley-Iste Series
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Mecânica
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781786306401