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Défauts À L'Échelle Nanométrique En Lumière Polarisée

de Abdelkhalak El Hami, Pierre-Richard Dahoo e Philippe Pougnet
Livro eBook
idioma: francês
Editor: ISTE, julho de 2016 ‧
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Défauts À L'Échelle Nanométrique En Lumière Polarisée

de Abdelkhalak El Hami, Pierre-Richard Dahoo e Philippe Pougnet

Propriedade Descrição
ISBN: 9781784051655
Editor: ISTE
Data de Lançamento: julho de 2016
Idioma: Francês
Páginas: 290
Tipo de produto: Livro
Coleção: Genie Mecanique Et Mecanique Des Solides
Classificação Temática: Livros em Francês > Ciências Exatas e Nat. > Outros
EAN: 9781784051655