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Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light eBook
idioma: inglês
Editor:
WILEY, agosto de 2016 ‧
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Ebook para ADE
SINOPSE
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9781119329688 |
| Editor: | WILEY |
| Data de Lançamento: | agosto de 2016 |
| Idioma: | Inglês |
| Tipo de produto: | eBook |
| Formato e Compatibilidade: | |
| Classificação Temática: |
eBooks em Inglês
>
Engenharia
>
Engenharia Geral
|
| EAN: | 9781119329688 |
| Acessibilidade: | Ver características de acessibilidade indicadas pelo editor |
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