10% de desconto

Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability eBook

A Physics Of Failure Approach

de Michael Pecht, Edward B. Hakim e Pradeep Lall
idioma: inglês
Editor: CRC PRESS, julho de 2020 ‧
55,64€
10% DESCONTO CARTÃO
DISPONIBILIDADE IMEDIATA
Ebook para ADE
This book provides a sound scientific basis for achieving system operation without reliability penalties at realistic steady state temperatures. guidelines for thermal derating of microelectronic devices.

Influence Of Temperature On Microelectronics And System Reliability

A Physics Of Failure Approach

de Michael Pecht, Edward B. Hakim e Pradeep Lall

Propriedade Descrição
ISBN: 9780429605598
Editor: CRC PRESS
Data de Lançamento: julho de 2020
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade:
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Arte > Design e Ilustração
eBooks em Inglês > Engenharia > Engenharia Hidráulica
EAN: 9780429605598
Acessibilidade: Ver características de acessibilidade indicadas pelo editor