Manoj Sachdev

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Frontiers In Electronic Testing

  1. Defect-Oriented Testing For Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits
    #1
  2. Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test In Nano-Scaled Technologies
    #2
  3. Defect Oriented Testing For Cmos Analog And Digital Circuits
    #3
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Manoj Sachdev
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