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Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test In Nano-Scaled Technologies eBook

Process-Aware Sram Design And Test

de Manoj Sachdev e Andrei Pavlov
idioma: inglês
Editor: SPRINGER NETHERLANDS, junho de 2008 ‧
184,84€
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DISPONIBILIDADE IMEDIATA
Ebook para ADE
Covers a broad range of topics related to SRAM design and test. This book places emphasis on challenges and solutions of stability testing as well as on development of understanding of the link between the process technology and SRAM circuit design in modern nano-scaled technologies.

Cmos Sram Circuit Design And Parametric Test In Nano-Scaled Technologies

Process-Aware Sram Design And Test

de Manoj Sachdev e Andrei Pavlov

Propriedade Descrição
ISBN: 9781402083631
Editor: SPRINGER NETHERLANDS
Data de Lançamento: junho de 2008
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Frontiers In Electronic Testing
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9781402083631

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