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Multilabel Classification

Problem Analysis, Metrics And Techniques

de Francisco Herrera, Maria J. Del Jesus, Antonio J. Rivera e Francisco Charte
idioma: inglês
Editor: Springer International Publishing AG, abril de 2018 ‧
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Problem Analysis, Metrics And Techniques

de Francisco Herrera, Maria J. Del Jesus, Antonio J. Rivera e Francisco Charte

Propriedade Descrição
ISBN: 9783319822693
Editor: Springer International Publishing AG
Data de Lançamento: abril de 2018
Idioma: Inglês
Dimensões: 156 x 234 x 11 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 194
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Informática > Base de Dados
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9783319822693