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Multilabel Classification

Problem Analysis, Metrics And Techniques

de Francisco Herrera, Maria J. Del Jesus, Antonio J. Rivera e Francisco Charte
idioma: inglês
Editor: Springer International Publishing AG, agosto de 2016 ‧
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Problem Analysis, Metrics And Techniques

de Francisco Herrera, Maria J. Del Jesus, Antonio J. Rivera e Francisco Charte

Propriedade Descrição
ISBN: 9783319411101
Editor: Springer International Publishing AG
Data de Lançamento: agosto de 2016
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 235 x 13 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 194
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Informática > Base de Dados
EAN: 9783319411101