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Metal Impurities In Silicon- And Germanium-Based Technologies

Origin, Characterization, Control, And Device Impact

de Eddy Simoen e Cor Claeys
idioma: inglês
Editor: Springer Nature Switzerland AG, Janeiro de 2019 ‧
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Metal Impurities In Silicon- And Germanium-Based Technologies

Origin, Characterization, Control, And Device Impact

de Eddy Simoen e Cor Claeys

Propriedade Descrição
ISBN: 9783030067472
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Data de Lançamento: Janeiro de 2019
Idioma: Inglês
Dimensões: 156 x 234 x 20 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 438
Tipo de produto: Livro
Coleção: Springer Series In Materials Science
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Mecânica
EAN: 9783030067472

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