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Metal Impurities In Silicon- And Germanium-Based Technologies

Origin, Characterization, Control, And Device Impact

de Eddy Simoen e Cor Claeys
idioma: inglês
Editor: Springer International Publishing AG, agosto de 2018 ‧
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Metal Impurities In Silicon- And Germanium-Based Technologies

Origin, Characterization, Control, And Device Impact

de Eddy Simoen e Cor Claeys

Propriedade Descrição
ISBN: 9783319939247
Editor: Springer International Publishing AG
Data de Lançamento: agosto de 2018
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 235 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 438
Tipo de produto: Livro
Coleção: Springer Series In Materials Science
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
EAN: 9783319939247

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