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Fundamentos de Metrologia

Científica e Industrial

de Armando Albertazzi G. Jr.
idioma: português, português do brasil
Editor: Editora Manole, setembro de 2008 ‧
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Este livro foi concebido como material de apoio para o ensino da metrologia, para atender às necessidades dos cursos de graduação e pós-graduação em engenharia, ciências exatas e afins. Tornou-se também um material de apoio para cursos de educação continuada e para pessoas autodidatas. Resultou do amadurecimento e da evolução das notas de aula compiladas ao longo de quase 20 anos de atividades docentes dos autores. A apresentação dos tópicos segue uma seqüência progressiva e intuitiva, desenhada para favorecer a compreensão do assunto e conduzir o leitor à aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.

Fundamentos de Metrologia

Científica e Industrial

de Armando Albertazzi G. Jr.

Propriedade Descrição
ISBN: 9788520421161
Editor: Editora Manole
Data de Lançamento: setembro de 2008
Idioma: Português, Português do Brasil
Dimensões: 163 x 230 x 21 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 407
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Português > Ciências Exatas e Naturais > Matemática
EAN: 9788520421161

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