Fundamentals Of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

de Jens Lienig e Matthias Thiele
Editor: Springer Nature Switzerland AG, dezembro de 2018 ‧
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The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.

Fundamentals Of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design

de Jens Lienig e Matthias Thiele

Propriedade Descrição
ISBN: 9783030088118
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Data de Lançamento: dezembro de 2018
Dimensões: 155 x 235 x 20 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 159
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9783030088118