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Fundamentals Of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
idioma: inglês
Editor:
Springer International Publishing AG, março de 2018 ‧
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SINOPSE
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration.
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9783319735573 |
| Editor: | Springer International Publishing AG |
| Data de Lançamento: | março de 2018 |
| Idioma: | Inglês |
| Dimensões: | 155 x 235 x 20 mm |
| Encadernação: | Capa dura |
| Páginas: | 159 |
| Tipo de produto: | Livro |
| Classificação Temática: |
Livros em Inglês
>
Engenharia
>
Eletricidade e Energia
Livros em Inglês > Outros |
| EAN: | 9783319735573 |
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