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Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

de Ronald G (Purdue Univ, Usa) Reifenberger
idioma: inglês
Editor: WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING CO PTE LTD, novembro de 2015 ‧
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The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

de Ronald G (Purdue Univ, Usa) Reifenberger

Propriedade Descrição
ISBN: 9789814630351
Editor: WORLD SCIENTIFIC PUBLISHING CO PTE LTD
Data de Lançamento: novembro de 2015
Idioma: Inglês
Dimensões: 229 x 155 x 19 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 342
Tipo de produto: Livro
Coleção: Lessons From Nanoscience: A Lecture Notes Series
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9789814630351