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Advanced Materials Characterization
Basic Principles, Novel Applications, And Future Directions
idioma: inglês
Editor:
TAYLOR & FRANCIS LTD, novembro de 2024 ‧
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SINOPSE
The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.
DETALHES
| Propriedade | Descrição |
|---|---|
| ISBN: | 9781032375113 |
| Editor: | TAYLOR & FRANCIS LTD |
| Data de Lançamento: | novembro de 2024 |
| Idioma: | Inglês |
| Dimensões: | 156 x 234 x 20 mm |
| Encadernação: | Capa mole |
| Páginas: | 130 |
| Tipo de produto: | Livro |
| Coleção: | Advanced Materials Processing And Manufacturing |
| Classificação Temática: |
Livros em Inglês
>
Ciências Exatas e Naturais
>
Química
Livros em Inglês > Outros |
| EAN: | 9781032375113 |
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