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idioma: inglês
Editor: TAYLOR & FRANCIS LTD, maio de 2023 ‧
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The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.

Advanced Materials Characterization

Basic Principles, Novel Applications, And Future Directions

de Ch Sateesh (University Of Johannesburg, South Africa) Kumar, Ram (Nit Jamshedpur, India) Krishna e M. Muralidhar (Madanapalle Institute Of Technology & Science, India) Singh

Propriedade Descrição
ISBN: 9781032375106
Editor: TAYLOR & FRANCIS LTD
Data de Lançamento: maio de 2023
Idioma: Inglês
Dimensões: 156 x 234 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 130
Tipo de produto: Livro
Coleção: Advanced Materials Processing And Manufacturing
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Química
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781032375106