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Fundamentos de Metrologia

Científica e Industrial

by Armando Albertazzi G. Jr.
language: portuguese, brazilian portuguese
Publisher: Editora Manole, September of 2008 ‧
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Este livro foi concebido como material de apoio para o ensino da metrologia, para atender às necessidades dos cursos de graduação e pós-graduação em engenharia, ciências exatas e afins. Tornou-se também um material de apoio para cursos de educação continuada e para pessoas autodidatas. Resultou do amadurecimento e da evolução das notas de aula compiladas ao longo de quase 20 anos de atividades docentes dos autores. A apresentação dos tópicos segue uma seqüência progressiva e intuitiva, desenhada para favorecer a compreensão do assunto e conduzir o leitor à aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.

Fundamentos de Metrologia

Científica e Industrial

by Armando Albertazzi G. Jr.

Property Description
ISBN: 9788520421161
Publisher: Editora Manole
Release Date: September of 2008
Language: Portuguese, Brazilian Portuguese
Dimensions: 163 x 230 x 21 mm
Cover: Softcover
Pages: 407
Format: Book
Categories: Books in Portuguese > Science > Mathematics
EAN: 9788520421161

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