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Thermal Reliability Of Power Semiconductor Device In The Renewable Energy System eBook

de Jun Zhang, Rui Du, Cheng Qian, Gaoxian Li, Yaoyi Yu e Xiong Du
idioma: inglês
Editor: Springer Nature Singapore, julho de 2022 ‧
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Ebook para ADE
This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management.

Thermal Reliability Of Power Semiconductor Device In The Renewable Energy System

de Jun Zhang, Rui Du, Cheng Qian, Gaoxian Li, Yaoyi Yu e Xiong Du

Propriedade Descrição
ISBN: 9789811931321
Editor: Springer Nature Singapore
Data de Lançamento: julho de 2022
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade:
Coleção: Cpss Power Electronics Series
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9789811931321
Acessibilidade: Ver características de acessibilidade indicadas pelo editor