20% de desconto

Thermal Reliability Of Power Semiconductor Device In The Renewable Energy System

de Jun Zhang, Rui Du, Cheng Qian, Gaoxian Li, Yaoyi Yu e Xiong Du
idioma: inglês
Editor: SPRINGER VERLAG, SINGAPORE, julho de 2022 ‧
175,73€
140,58€
20% DESCONTO IMEDIATO
portes grátis
Venda o seu livro
This book focuses on the thermal reliability of power semiconductor device by looking at the failure mechanism, thermal parameters monitoring, junction temperature estimation, lifetime evaluation, and thermal management.

Thermal Reliability Of Power Semiconductor Device In The Renewable Energy System

de Jun Zhang, Rui Du, Cheng Qian, Gaoxian Li, Yaoyi Yu e Xiong Du

Propriedade Descrição
ISBN: 9789811931314
Editor: SPRINGER VERLAG, SINGAPORE
Data de Lançamento: julho de 2022
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 235 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 172
Tipo de produto: Livro
Coleção: Cpss Power Electronics Series
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9789811931314