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Lock-In Thermography eBook

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta
idioma: inglês
Editor: Springer International Publishing, Janeiro de 2019 ‧
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Ebook para ADE
Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems.

Lock-In Thermography

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta

Propriedade Descrição
ISBN: 9783319998251
Editor: Springer International Publishing
Data de Lançamento: Janeiro de 2019
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade:
Coleção: Springer Series In Advanced Microelectronics
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
eBooks em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
EAN: 9783319998251
Acessibilidade: Ver características de acessibilidade indicadas pelo editor

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