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Lock-In Thermography

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta
idioma: inglês
Editor: Springer International Publishing AG, Janeiro de 2019 ‧
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Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems.

Lock-In Thermography

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin C. Schubert e Wilhelm Warta

Propriedade Descrição
ISBN: 9783319998244
Editor: Springer International Publishing AG
Data de Lançamento: Janeiro de 2019
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 235 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 321
Tipo de produto: Livro
Coleção: Springer Series In Advanced Microelectronics
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Mecânica
EAN: 9783319998244

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