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Lock-In Thermography eBook

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin Langenkamp e Wilhelm Warta
idioma: inglês
Editor: Springer Berlin Heidelberg, setembro de 2010 ‧
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Ebook para ADE
Lock-in Thermography focuses on this sensitive infrared measurement system that offers a more effective analytical capability. Though mainly covering applications in electronic materials and devices, readers will also find treatment of nondestructive evaluation.

Lock-In Thermography

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin Langenkamp e Wilhelm Warta

Propriedade Descrição
ISBN: 9783642024177
Editor: Springer Berlin Heidelberg
Data de Lançamento: setembro de 2010
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Springer Series In Advanced Microelectronics
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
eBooks em Inglês > Outros
EAN: 9783642024177

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