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Lock-In Thermography eBook

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin Langenkamp e Wilhelm Warta
idioma: inglês
Editor: Springer Berlin Heidelberg, março de 2013 ‧
95,40€
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Ebook para ADE
Covers lock-in thermography, an analytical method applied to the diagnosis of microelectronic devices. This book reviews various experimental approaches to lock-in thermography, with emphasis on the lock-in IR thermography developed by the authors.

Lock-In Thermography

Basics And Use For Evaluating Electronic Devices And Materials

de Otwin Breitenstein, Martin Langenkamp e Wilhelm Warta

Propriedade Descrição
ISBN: 9783662083963
Editor: Springer Berlin Heidelberg
Data de Lançamento: março de 2013
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Coleção: Springer Series In Advanced Microelectronics
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Engenharia Hidráulica
eBooks em Inglês > Ciências Sociais e Humanas > História e Metodologia Científica
eBooks em Inglês > Outros
EAN: 9783662083963

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