10% de desconto

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory And Computational Models eBook

de Jose Pineda De Gyvez
idioma: inglês
Editor: SPRINGER US, novembro de 2013 ‧
118,59€
10% DESCONTO CARTÃO
DISPONIBILIDADE IMEDIATA
Ebook para ADE
Reviews the importance of a defect-sensitivity analysis in contemporary VLSI design processes. The modelling of defects in microelectronics technologies is revised, introducing the reader to critical area analysis through the construction of formal mathematical models.

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory And Computational Models

de Jose Pineda De Gyvez

Propriedade Descrição
ISBN: 9781461531586
Editor: SPRINGER US
Data de Lançamento: novembro de 2013
Idioma: Inglês
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9781461531586