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Applications Et Metrologie A L'Echelle Nanometrique 1 eBook

de Philippe Pougnet, El Hami Abdelkhalak e Pierre Richard Dahoo
Livro eBook
Editor: ISTE Editions, outubro de 2021 ‧
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Ebook para ADE
Les innovations en rupture dans les domaines de l'ingenierie quantique et des nanosystemes s'appuient sur les methodes developpees en recherche. Une maitrise des techniques de mesure et de l'application de modeles theoriques bases sur les principes de la mecanique quantique sont necessaires.Cet ouvrage presente des methodes experimentales pour developper et caracteriser les materiaux a l'echelle nanometrique, pour des cas pratiques d'applications des ondes electromagnetiques tels que la 5G ou l'heterodynage en optique. Il traite egalement des materiaux intelligents par le couplage electromecanique des piezoelectriques, en se focalisant sur la reduction des echelles et sur les applications electromecaniques. L'utilite des methodes d'analyse statistique basees sur les facteurs de sArete et sur les techniques de calcul les plus avancees en fiabilite est demontree pour l'optimisation des systemes employes dans la caracterisation, l'experimentation et la conception de produits industriels.

Applications Et Metrologie A L'Echelle Nanometrique 1

de Philippe Pougnet, El Hami Abdelkhalak e Pierre Richard Dahoo

Propriedade Descrição
ISBN: 9781784067939
Editor: ISTE Editions
Data de Lançamento: outubro de 2021
Páginas: 214
Tipo de produto: eBook
Formato e Compatibilidade: PDF para ADE
Classificação Temática: eBooks em Inglês > Outros
EAN: 9781784067939