Alvin W. (Ibm) Strong

partilhar

bibliografia

coleções

Ieee Press Series On Microelectronic Systems

  1. Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies
    #1
X
recomendar
Alvin W. (Ibm) Strong
Para recomendar este autor a um amigo basta preencher o seu nome e email, bem como o nome e email da pessoa a quem pretende fazer a sugestão. Se quiser pode ainda acrescentar um pequeno comentário, de seguida clique em enviar o pedido. A sua recomendação será imediatamente enviada em seu nome, para o email da pessoa a quem pretende fazer a recomendação.
A sua identificação:
A identificação da pessoa a quem quer recomendar este titulo:
X
A sua recomendação foi enviada com sucesso!
X
Ocorreu um erro ao enviar a sua recomendação.
X
selecione o livro adotado:
X
Ocorreu um erro!
Por favor tente novamente mais tarde.
X
atingiu o limite máximo de dispositivos autorizados
Por favor, aceda à area de cliente para gerir os dispositivos ativos.