10% de desconto
idioma: inglês
Editor: JOHN WILEY & SONS INC, setembro de 2009 ‧
221,64€
10% DESCONTO CARTÃO
portes grátis
Venda o seu livro
This invaluable resource tells the complete story of failure mechanisms from basic concepts to the tools necessary to conduct reliability tests and analyze the results. Both a text and a reference work for this important area of semiconductor technology, it assumes no reliability education or experience.

Reliability Wearout Mechanisms In Advanced Cmos Technologies

de Alvin W. (Ibm) Strong, Ernest Y. (Ibm) Wu, Rolf-Peter (Infineon) Vollertsen, Stewart E., Iii Rauch, Giuseppe (Ibm) La Rosa, Timothy D. (Ibm) Sullivan e Jordi (Universitat Autonoma De Barcelona, Spain) Sune

Propriedade Descrição
ISBN: 9780471731726
Editor: JOHN WILEY & SONS INC
Data de Lançamento: setembro de 2009
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 640
Tipo de produto: Livro
Coleção: Ieee Press Series On Microelectronic Systems
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
EAN: 9780471731726