10% de desconto

Transmission Electron Microscopy And Diffractometry Of Materials

de Brent Fultz e James Howe
idioma: inglês
Editor: SPRINGER-VERLAG BERLIN AND HEIDELBERG GMBH & CO. KG, outubro de 2012 ‧
148,70€
10% DESCONTO CARTÃO
portes grátis
Venda o seu livro
This book explains concepts of transmission electron microscopy (TEM) and x-ray diffractometry (XRD) that are important for the characterization of materials.

Transmission Electron Microscopy And Diffractometry Of Materials

de Brent Fultz e James Howe

Propriedade Descrição
ISBN: 9783642297601
Editor: SPRINGER-VERLAG BERLIN AND HEIDELBERG GMBH & CO. KG
Data de Lançamento: outubro de 2012
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 764
Tipo de produto: Livro
Coleção: Graduate Texts In Physics
Classificação Temática: Livros em Inglês > Outros
EAN: 9783642297601

LIVROS DA MESMA COLEÇÃO