Capa do artigo The Trips Regime Of Patents And Test Data

The Trips Regime Of Patents And Test Data

de Nuno Pires De Carvalho
idioma: inglês
Editor: KLUWER LAW INTERNATIONAL, dezembro de 2017 ‧
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The Trips Regime Of Patents And Test Data

de Nuno Pires De Carvalho

Propriedade Descrição
ISBN: 9789041188717
Editor: KLUWER LAW INTERNATIONAL
Data de Lançamento: dezembro de 2017
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 833
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Direito > Direito Internacional
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9789041188717

NUNO PIRES DE CARVALHO

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