Terrestrial Radiation Effects In Ulsi Devices And Electronic Systems

de Eishi H. Ibe
idioma: inglês
Editor: JOHN WILEY & SONS INC, fevereiro de 2015 ‧
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This book provides the reader with knowledge on a wide variety of radiation fields and their effects on the electronic devices and systems. The author covers faults and failures in ULSI devices induced by a wide variety of radiation fields, including electrons, alpha-rays, muons, gamma rays, neutrons and heavy ions.

Terrestrial Radiation Effects In Ulsi Devices And Electronic Systems

de Eishi H. Ibe

Propriedade Descrição
ISBN: 9781118479292
Editor: JOHN WILEY & SONS INC
Data de Lançamento: fevereiro de 2015
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 296
Tipo de produto: Livro
Coleção: Wiley-Blackwell Companions To Religion
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
EAN: 9781118479292