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Supervised Descriptive Pattern Mining

de Jose Maria Luna e Sebastian Ventura
idioma: inglês
Editor: Springer Nature Switzerland AG, Janeiro de 2019 ‧
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Supervised Descriptive Pattern Mining

de Jose Maria Luna e Sebastian Ventura

Propriedade Descrição
ISBN: 9783030074562
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Data de Lançamento: Janeiro de 2019
Idioma: Inglês
Dimensões: 156 x 234 x 20 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 185
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Informática > Base de Dados
EAN: 9783030074562