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Spatial Point Patterns

Methodology And Applications With R

de Rolf (University Of Auckland, New Zealand) Turner e Ege (Aalborg University, Denmark) Rubak
Livro eBook
idioma: inglês
Editor: TAYLOR & FRANCIS INC, novembro de 2015 ‧
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Spatial Point Patterns

Methodology And Applications With R

de Rolf (University Of Auckland, New Zealand) Turner e Ege (Aalborg University, Denmark) Rubak

Propriedade Descrição
ISBN: 9781482210200
Editor: TAYLOR & FRANCIS INC
Data de Lançamento: novembro de 2015
Idioma: Inglês
Dimensões: 178 x 254 x 20 mm
Encadernação: Capa dura
Páginas: 810
Tipo de produto: Livro
Coleção: Chapman & Hall/Crc Interdisciplinary Statistics
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Matemática
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781482210200