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Soft Error Reliability Of Vlsi Circuits

Analysis And Mitigation Techniques

de Mohsen Raji e Behnam Ghavami
idioma: inglês
Editor: Springer Nature Switzerland AG, outubro de 2021 ‧
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Coverage includes novel Soft Error Rate (SER) analysis techniques such as process variation aware SER estimationand GPU accelerated SER analysis techniques, in addition to SER reduction methods such as gate sizing and logic restructuring based SER techniques.

Soft Error Reliability Of Vlsi Circuits

Analysis And Mitigation Techniques

de Mohsen Raji e Behnam Ghavami

Propriedade Descrição
ISBN: 9783030516123
Editor: Springer Nature Switzerland AG
Data de Lançamento: outubro de 2021
Idioma: Inglês
Dimensões: 155 x 235 x 20 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 114
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
Livros em Inglês > Informática > Sistemas Operativos e Redes
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9783030516123