Recent Interferometry Applications In Topography And Astronomy

de Ivan Padron
idioma: inglês
Editor: In Tech, março de 2012 ‧
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Recent Interferometry Applications In Topography And Astronomy

de Ivan Padron

Propriedade Descrição
ISBN: 9789535104049
Editor: In Tech
Data de Lançamento: março de 2012
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 232
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Eletricidade e Energia
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9789535104049