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Optical Scattering

Measurement And Analysis

de John C. Stover
idioma: inglês
Editor: SPIE PRESS, setembro de 2025 ‧
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Exploring the link between surface roughness and light scatter, the text connects BRDF and fractional scatter to rapid product inspection. It explains how scatterometry detects semiconductor defects and appearance variations in everyday items, offering practical methods for swift quality control.

Optical Scattering

Measurement And Analysis

de John C. Stover

Propriedade Descrição
ISBN: 9781510690288
Editor: SPIE PRESS
Data de Lançamento: setembro de 2025
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa mole
Páginas: 368
Tipo de produto: Livro
Coleção: Press Monographs
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
EAN: 9781510690288