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idioma: inglês
Editor: ISTE LTD AND JOHN WILEY & SONS INC, agosto de 2016 ‧
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This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.

Nanometer-Scale Defect Detection Using Polarized Light

de Pierre-Richard (University Of Versailles Saint-Quentin, France) Dahoo, Philippe (Vedecom Institute, Versailles, France) Pougnet e Abdelkhalak (Institut National Des Sciences Appliquees (Insa-Rouen), France) El Hami

Propriedade Descrição
ISBN: 9781848219366
Editor: ISTE LTD AND JOHN WILEY & SONS INC
Data de Lançamento: agosto de 2016
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 320
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Engenharia > Engenharia Geral
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781848219366