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Modern Characterization Of Electromagnetic Systems And Its Associated Metrology

de Tapan K. Sarkar, Magdalena (Universidad Politecnica De Madrid, Spain) Salazar-Palma, Heng Chen e Ming Da Zhu
idioma: inglês
Editor: JOHN WILEY & SONS INC, agosto de 2021 ‧
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Modern Characterization Of Electromagnetic Systems And Its Associated Metrology

de Tapan K. Sarkar, Magdalena (Universidad Politecnica De Madrid, Spain) Salazar-Palma, Heng Chen e Ming Da Zhu

Propriedade Descrição
ISBN: 9781119076469
Editor: JOHN WILEY & SONS INC
Data de Lançamento: agosto de 2021
Idioma: Inglês
Encadernação: Capa dura
Páginas: 720
Tipo de produto: Livro
Coleção: Ieee Press
Classificação Temática: Livros em Inglês > Outros
EAN: 9781119076469