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Migration Imaging Of The Transient Electromagnetic Method

de Xiu Li, Changchun Yin e Guoqiang Xue
idioma: inglês
Editor: SPRINGER VERLAG, SINGAPORE, junho de 2018 ‧
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This book is based on more than a decade of research the authors have pursued on the pseudo-seismic migration imaging of the transient electromagnetic method, and provides a series of important findings on the theory and applications in this area.

Migration Imaging Of The Transient Electromagnetic Method

de Xiu Li, Changchun Yin e Guoqiang Xue

Propriedade Descrição
ISBN: 9789811096884
Editor: SPRINGER VERLAG, SINGAPORE
Data de Lançamento: junho de 2018
Idioma: Inglês
Dimensões: 156 x 234 x 8 mm
Encadernação: Capa mole
Páginas: 139
Tipo de produto: Livro
Classificação Temática: Livros em Inglês > Ciências Exatas e Naturais > Física
Livros em Inglês > Outros
EAN: 9789811096884